扫描电镜-SEM-蔡斯

主要用于表面形貌观察、成分分析、物相结构分析等

仪器名称 

场发射扫描电子显微镜(SEM)


型号 

Merlin


主要规格及技术指标

分辨率:0.9nm@15kV;2.0nm@1kV


样品要求

样品如为固体粉末,则需10mg以上;

如为块体、薄膜则高度不要超过20mm;

无磁性。


提供数据

SEM高低倍照片(每个样品7-10张)

能谱EDS成分分析(点、线、面扫),

EBSD测试分析


测试价格

形貌测试:160元/样(提供7-10张照片)

EDS成分分析:点/线扫100元/样,面扫160元/样

EBSD显微取向分析测试:900元/样

EBSD显微取向分析样品振动抛光:700元/样

喷金:100元/次(长期合作客户半价)


备注

除EBSD外,其他制样不收费,但不接受制样太麻烦的样品。请在“测试要求”中注明要求,需确定样品是否导电、拍摄倍数以及其他要求,最好能附上类似照片。


服 务 商:
服务资质:
测试谷自营
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北京紫荆高科科技有限公司
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