高分辨透射电镜(TEM)

可用于材料的微观结构分析,包括普通透射(形貌观察)、高分辨透射(形貌观察)以及X射线能谱(元素分析)等

仪器型号

JEM 2100 plus


技术参数(UHR
1.点分辨率:0.19nm
2.线分辨率:0.14nm
3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV
4.倾斜角:25


提供数据

TEM形貌高分辨照片(10张照片)

电子衍射,能谱EDX成分分析(只能扫视野内范围,不能做点线面)



样品要求

避免以下样品情况:

1低熔点的材料(如:铟,锡,镓等,会产生相变及蒸镀效应)

2、在电子束照射下会分解或释出气体的样品(如有机物、高分子等,会污染真空系统)

3、具有强磁性或易被电磁透镜吸引的粉末型式样品或材料

4、未经正确处理或充分干燥的粉末样品

5粉末药品不要是强磁性,不接受块状样品

6、粉末样品10mg以上


测试收费

形貌:300/

高分辨:500/

微栅:40/

服 务 商:
服务资质:
测试谷自营
公司名称:
北京紫荆高科科技有限公司
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