扫描电子显微镜(SEM)

主要用于表面形貌观察、成分分析、物相结构分析等

仪器型号

FEI inspect S50


主要规格及技术指标

分辨率

二次电子:

高真空模式 3.0nm @ 30kV; 8nm @ 3kV

高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项)

低真空模式 3.0nm @ 30kV; 10nm @ 3kV

背散射电子:
4.0nm @ 30kV

加速电压:200 V - 30 kV, 连续可调


样品要求

样品如为固体粉末,则需10mg以上

如为块体、薄膜则长宽10mm左右

无磁性


提供数据

SEM高低倍照片(每个样品10张左右)

能谱EDS成分分析


测试价格

形貌测试: 60/ (提供7-10张照片)

EDS成分分析:60/

喷金:100/组(7个)

备注

此电镜灯丝是钨灯丝,分辨率有限,最高放大倍数1-2万倍,根据样品情况而定


注意:本测试业务为特惠业务,5个样品以上才接待。

服 务 商:
服务资质:
测试谷自营
公司名称:
北京紫荆高科科技有限公司
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